Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь. Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.





Главная » Файлы » Книги » Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

Опубликовал: Kitovras | Дата публикации: 19.05.2022
Раздел: Книги


Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий — В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Наряду с анализом тепловых моделей ППИ представлены новые оригинальные методы диагностического контроля их качества по теплоэлектрическим характеристикам, в частности методы контроля качества светоизлучающих диодов по частотным и токовым зависимостям модуля теплового импеданса и токовым зависимостям теплового сопротивления.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Название: Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Автор: Горлов М. И., Сергеев В. А.
Издательство: Ульяновск: УлГТУ
Год: 2015
Страниц: 406
Формат: PDF
Размер: 10,62 Мб
ISBN: 978-5-9795-1470-3
Качество: Отличное

Скачать Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

Скачать с dfiles.ru
Скачать с turbobit.net
Скачать с bezsms.org
Скачать с katfile.com
Скачать с file-upload.com




На нашем сайте вы можете бесплатно скачать Книги без лишних регистраций и отправки платной смс, а именно скачать Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий бесплатно.

Просмотров: 109 | Комментарии: 0

Другие новости по теме:

Ключевые теги: Диагностические, методы, Сергеев, современные, качества, контроля, полупроводниковых, надежности, изделий, Горлов


Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь. Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.

Наш опрос
Вы счастливы?
Всего ответов: 5
Статистика
Реклама